1、概  述：

       R&S®RTA4000 具備信號完整性和快速響應(yīng)的超大深存儲，將“十"力鉅獻提高到更高水平。羅德與施瓦茨專門設(shè)計的 10 位 ADC 結(jié)合低噪聲性能和深存儲，在遇到意外測量挑戰(zhàn)時可以生成高保真波形，確保更加準(zhǔn)確自信地進行測量。

2、特點：

(1) 信號分析:快速獲取結(jié)果

   可查看存在于大信號中的小信號細節(jié)

      羅德與施瓦茨數(shù)字示波器RTA4000，使用羅德與施瓦茨設(shè)計的定制化10位模數(shù)轉(zhuǎn)換器，與傳統(tǒng)8位模數(shù)轉(zhuǎn)換器相比,波形精度提升到4倍。分辨率越高,波形越清晰，進而顯更多在其他情況下可能忽略的信號細節(jié)。比如在測量開關(guān)電源的特性時，在單次捕獲中，需要同時測量開關(guān)設(shè)備開啟和關(guān)斷時的電壓。

(2) 分段存儲(100 Msample（標(biāo)配）；200 Msample（交織模式）)

     R&S®RTA4000 提供的存儲深度：每個通道的存儲深度達到 100 Msample，在交織模式下存儲深度可達 200 Msample。這是同類示波器的十倍。用戶甚至可以在高采樣率下捕獲更長的采集序列，以便獲得更詳細的分析結(jié)果，例如分析開關(guān)電源的瞬態(tài)響應(yīng)。

(3) 在全帶寬下采集時間更長(分段存儲：1000 Msample，帶歷史功能)

     R&S®RTA-K15 選件帶有深分段存儲功能，能分析較長觀測時間的信號序列。可以在幾秒或幾分鐘內(nèi)捕獲有通信間隔的協(xié)議信號（例如 I2C 或 SPI）。由于分段長度可調(diào)，因此 1000 Msample 的存儲深度能得到利用。在歷史模式下，可以調(diào)用 1000 Msample 大分段存儲中的所有采集波形并進行分析。

(4) 使用混合信號示波器選件進行邏輯分析(16 個附加數(shù)字通道)

      使用 RTA-B1選件，RTA4000可升級為具有 16 個附加數(shù)字通道、操作直觀的混合信號示波器。該示波器能同時捕獲和分析嵌入式設(shè)計的模擬和數(shù)字信號。例如，可以使用光標(biāo)測量很方便地確定模數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入輸出之間的延遲。

(5) 波形和碼型發(fā)生器(生成模擬和數(shù)字激勵)

      RTA-B6波形和碼型發(fā)生器的數(shù)據(jù)傳輸率高達 50 Mbit/s，適用于教育和硬件原型開發(fā)。除了常見的正弦波、方波/脈沖波、鋸齒波和噪聲波形外，此發(fā)生器還可輸出任意波形以及 4 位信號碼型。波形和碼型可以 CSV 文件形式導(dǎo)入，也可從示波器波形中復(fù)制。可使用預(yù)定義碼型，比如 I2C、SPI、UART 以及 CAN/LIN。

(6) 數(shù)字電壓表(測量并顯示電勢)

      RTA4000在每個通道上設(shè)有 3 位電壓表 (DVM) 和 6 位頻率計，可實現(xiàn)同步測量。標(biāo)配測量功能包括 DC、AC + DC (RMS) 和 AC(RMS)。

(7) 頻率分析模式

      有些故障難以察覺，這通常是因為時間和頻率信號之間的相互作用。只要按下按鈕，輸入中心頻率和頻率范圍，即可激活RTA4000的 FFT 功能。RTA4000示波器具有強大的 FFT 功能，可分析長達 128 kpoints 的信號。其他實用功能包括光標(biāo)測量和頻域自動設(shè)置。

(8) 模板測試模式

      模板測試能快速顯示特定信號是否在規(guī)定的容差范圍內(nèi)。此類測試使用合格/不合格評估統(tǒng)計數(shù)據(jù)，評估被測設(shè)備 (DUT) 的質(zhì)量和穩(wěn)定性， 并且快速確定信號異常和意外結(jié)果。當(dāng)模板被違反時，測量停止。RTA4000 的 AUX-OUT 連接器將在每次模板違規(guī)時生成一次脈沖輸出。此脈沖輸出可用于觸發(fā)測量設(shè)置中的操作。

(9) 電源應(yīng)用的理想之選(分辨率高達 10 位，輕松查看電源信號細節(jié))

      在電源測量中，高動態(tài)信號的微小細節(jié)也至關(guān)重要。比如驗證 MOSFET 的 RDS(on)。R&S®RTA4000 示波器具備出色的 ADC 分辨率，可將垂直分辨率提升至 10 位。以前無法查看的信號細節(jié)變得可見，并且可測量。因此在驗證 RDS(on)時，可以在開關(guān)關(guān)閉的狀態(tài)下測量漏源極電壓的斜率。

3、技術(shù)規(guī)格：